User Guide的劣质翻译，仅供参考。

如果你在初次ATPG后，对于测试覆盖率不满意，或者测试pattern过大，你可以对几个系统默认值进行调整，重新ATPG。

低测试覆盖率的原因

例如，工具的约束或者退出条件会导致低测试覆盖率，过早的终止ATPG也是一个原因。

您可以在deterministic test generation阶段检查工具打印的消息。这些信息会提示你redundant(RE) fault、ATPG_untestable (AU) faults以及undetected (UD) faults出现的原因。只要你理解要从何处提高覆盖率，就不必等到ATPG完成，直接Ctrl-C掉即可。

report_statistics命令提供了ATPG完成后的按故障类划分的测试覆盖率。report_faults命令提供了设计中故障的详细列表，并根据您的spec进行了自定义过滤。

Fault Classes

工具对于fault的分类，取决于这些fault是如何被检测到，或者为什么无法被检测到。每种fault有唯一的名称和两个属性code。当report faults时，工具会使用二者之一识别fault的种类。

工具可能将一个fualt划分到不同类别，取决于选择的fault type。

Untestable(UT)

UT意味着pattern无法检测或检测概率很低。UT faults不会造成功能性错误，所以工具在计算覆盖率时不会考虑它们。
因为工具在ATPG之前就获取了一些fault的信息，并将它们分类为unused ，tied或者blocked faults。当ATPG开始时，它会立即将这些faults分到正确的类别。然而，冗余故障需要进一步的分析。
以下是每种UT故障的列表：

1. Unused(UU)

这种fault意味着没有连接到电路中的任何可观测点，或者faults在浮空的primary output上。

2. Tied(TI)

意味着故障点的被tie到了stuck fault的值上，这有可能由以下原因造成：

• Tied signals
• AND和OR门拥有互补的输入
• XOR门拥有相同的输入
• 使用add_input_constraints命令添加了CT0、CT1的pin constraint，不会将C0和C1的constraint用于tied fault，而是用于ATPG_untestable(AU)，后文会介绍。

下图展示了典型的tied fault：

3. Blocked(BL)

Blocked fault类包括那些被tied logic 阻塞而无法传到观测点的fault。是由tied fault衍生的fault。

4. Redundant（RE）

冗余故障包含那些test generator认为undetectable的故障。在test pattern generator耗尽所有pattern时，它会进行一个特殊的分析，来验证这些fault是不是在任何情况下都undetectable。下图展示了一个例子：

在本电路中，无论A、B和C的值是多少，信号G的值始终为1，如果D发生stuck-at-1故障，则无法检测到此故障，因为G的值永远不会改变，无论D的值如何。

这里与tie类型故障很像，本例中如果E和F后面直接接reg（观测点），则D的s-a-1是tie类型故障。

Testable (TE)

TE故障的定义是所有不可被证明为untestable的故障，包含如下种类：

1.Deteced(DT)

包含所有ATPG过程中识别到的detected的fault，包含如下两组：

• det_simulation(DS)——在进行fault simulation是检测到的故障
• det_implication(DI)——在进行learning analysis时检测到的故障

det_implication通常包含scan path电路中的故障，以及传播到扫描单元的移位时钟输入的ungated故障。扫描链功能测试在观测点检测二进制差异，保证了这些故障的检测。工具还将SDFF的MUX的sel上的scan enable信号stack-in-system-mode故障分类为DI。

工具提供了update_implication_detections命令，可以为det_implication指定额外的类型。

对于 path delay testing，DT类型故障包含另外两组：

• det_robust(DR)——robust detected faults。
• det_functional(DF)——functional detected faults。

2. Posdet(PD)

Possible-detected fault类型包含fault simulation识别到的所有possible-detected但不是hard detected的fault。

Possible-detected fault：good-machine仿真观测到0或1但fualty machine 观测到X。

Hard-detected fualt：good和faulty machine观测到了不同的值（非X）。

posdet类型包含两组：

• posdet_testable(PT)——潜在detectable posdet fault。当工具不能证明0/X或1/X的差异是唯一可能的结果时，就会发生PT故障。较高的中止限制可以减少这些故障的数量。
• post_untestable (PU) ——在pattern generation时被证明是ATPG_untestable并且hard undetectable posdet faults。一般情况下，在ATPG时或使用compress_patterns -reset_au命令时，故障可归为PU类。

默认情况下，计算结果会对posdet错误给予50%的credit。可以使用set_possible_credit命令调整credit。

3. ATPG_untestable(AU)

ATPG_untestable fault类包含所有test generator不能找到pattern创建test并且不能被证明是redundant的fault。可测试的fault变成了ATPG_untestable 的错误，是因为对ATPG工具施加了约束或限制（例如引脚约束或逻辑深度不足）。如果您在测试生成器上删除某些约束或更改某些限制（例如删除一个引脚约束或更改逻辑深度），这些故障可能是possible-detectable，或者是detectable。您无法通过放宽测试生成器中止限制来检测它们。

这些工具根据所使用的确定性测试生成方法的类型将故障放在AU类别中。也就是说，不同的测试方法创建不同的AU故障集。同样，即使使用相同的测试方法，该工具也可以创建不同的AU故障集。因此，如果切换测试方法（即更改故障类型）或工具，应使用reset_au_faults命令重置AU故障列表。

Note: 在mutiple detect ATPG中，AU fault的数量只在ATPG loop开始的时候改变，在loop运行时不再改变。

4. Undetected （UD）

UD fault包含UC和UO，它包含所有除了AU fault以外的undetected fault。

• uncontrolled（UC）—— undetected faults，在pattern simulation时，无法控制该点。
• unobserved（UO）—— fault无法传播到观测点

故障分类层次：

Full (FU)
1.1 TEstable (TE)
   a. DETEcted (DT)
         i. DET_Simulation (DS)
         ii. DET_Implication (DI)
         iii. DET_Robust (DR)—Path Delay Testing Only
         iv. DET_Functional (DF)—Path Delay Testing Only
   b. POSDET (PD)
         i. POSDET_Untestable (PU)
         ii. POSDET_Testable (PT)
   c. Atpg_untestable (AU)
   d. UNDetected (UD)
        i. UNControlled (UC)
        ii. UNObserved (UO)
1.2 UNTestable (UT)
   a. UNUsed (UU)
   b. TIed (TI)
   c. Blocked (BL)
   d. Redundant (RE)